XR檢測(cè)設(shè)備
引領(lǐng)微顯示檢測(cè)技術(shù)賦能AI終端全新交互體驗(yàn)
微顯示模組系統(tǒng)級(jí)檢測(cè)
對(duì)于新型顯示器件Module產(chǎn)品點(diǎn)亮后的光學(xué)、電學(xué)等性能，進(jìn)行拍照、分析檢測(cè)的全自動(dòng)設(shè)備，應(yīng)用在Micro LED顯示產(chǎn)品切割后的Module段點(diǎn)燈工序的顯示功能及缺陷檢測(cè)。
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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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01自研Demura&AOI&外觀檢測(cè)算法，可快速完成CSV數(shù)據(jù)燒錄補(bǔ)償和點(diǎn)、線、外觀不良的檢測(cè)
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02自研自動(dòng)對(duì)焦算法，解決因相機(jī)景深太小導(dǎo)致的成像不清晰問(wèn)題
產(chǎn)品功能
1.全自動(dòng)上下、料和良品、不良品分類
2.Micro-LED/Micro-OLED顯示模組的均一性和De-Mura補(bǔ)償，改善顯示效果
3.同時(shí)進(jìn)行亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、線不良、色差、異物、劃痕等畫面和外觀不良檢測(cè)
4.不良檢出圖片和log數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存檔，便于品質(zhì)追溯
5.對(duì)接客戶CIM系統(tǒng)，實(shí)時(shí)上報(bào)生產(chǎn)數(shù)據(jù)
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