AMOLED檢測設備
追求更優成本與效率讓卓越顯示觸手可及?
模組老化信號發生器
MDL老化PG用于模組高溫/常溫老化測試環節，輸出持續、穩定的滿屏/循環測試信號（如純色、棋盤格、滾動條紋），長時間加載在模組上，加速暴露潛在的可靠性問題（如虛焊、元件早期失效），是可靠性驗證工具。
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產品優勢
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01提供多種視頻信號和多路高精度電源
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02支持同時點4塊模組面板
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03用于中小尺寸OLED顯示模組產品老化、檢測等應用場景
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04滿足OLED模組產品的產線、研發、品保等老化測試應用
產品功能
1. 支持MIPI、eDP、LVDS、SPI等信號
2. 支持MIPI DSI V2.0 版本，D-PHY可實現8lane輸出，最高1.5G/lane；C-PHY可實現6trio輸出，最高3.42Gbps/trio
3. 支持eDP 1.4版本，8.1/5.4/2.7/1.62 Gbps/lane
4. Timing、Power、Pattern、寄存器讀寫等功能等由PC端軟件腳本化編輯，編輯軟件易操作
5. 測試Pattern可自動/手動切換，切換時間可控，可獨立鎖秒、可編輯順序
6. 多臺PG可以組成局域網，用一臺PC統一控制
7. 通過系統與設備、客戶CIM系統進行數據交握
8. 外設接口：Ethernet/TF/RS485/RS232接口，便于工廠集中化管理
9. 集成度高，體積小
10.支持電源通道 OVP/OCP/UVP/UCP功能
11.大容量存儲，可從上位機下載多組Recipe和pattern
