存儲芯片測試設(shè)備
守護可靠存儲穩(wěn)筑AI數(shù)據(jù)基座
老化修復(fù)設(shè)備
S9620是精智達公司推出的一體化大容量DRAM測試設(shè)備，致力于提升DRAM的測試效率和精度，降低測試成本。S9620支持對DDR4、DDR5、LPDDR4和LPDDR5型號的DRAM芯片進行老化測試（Burn in Test）和核心測試（Core Test）。
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產(chǎn)品優(yōu)勢
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01大容量：支持23040個DUT (Device Under Test)并行測試
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02高集成：支持老化測試、高低溫測試和核心測試，有效節(jié)省空間、老化測試和核心測試之間的轉(zhuǎn)換時間
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03高速率：支持最高100 MHz/200 Mbps的測試速率
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04寬溫域：測試溫度范圍為-10~150℃
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05高精度：時鐘邊沿分辨率為625 ps，高低溫老化爐溫度控制精度為±1.0℃
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06自動化：支持全自動化測試，實現(xiàn)智能化生產(chǎn)
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07易操作：支持命令行和GUI界面等多種交互方式，提供了豐富的可視工具和軟件接口，并且兼容常見的C語言測試程序
產(chǎn)品功能
對應(yīng)產(chǎn)品
DDR4/5, LPDDR4/5
測試速率
100MHz/200Mbps
并測支持
支持23040DUT/total
技術(shù)參數(shù)
數(shù)字通道： 46080ch/sys;
電源通道：960 HCPPS+960 HVPPS+ 960 TMPS+240 PPS
邊沿分辨率： 625ps
Timing Set： 16
DR/IO Range： 1V-2.1V
